Anda belum login :: 23 Jul 2025 16:04 WIB
Detail
ArtikelStudies by STEM of crystalline inclusions in amorphous silicon  
Oleh: Craven, A. J. ; Lynch, J. P. ; Brown, L. M. ; Mistry, A. B.
Jenis: Article from Books
Dalam koleksi: Electron microscopy and analysis, 1979, page 343-344.
Topik: Microanalysis
Ketersediaan
  • Perpustakaan Pusat (BSD)
    • Nomor Panggil: 502.8 ELE
    • Non-tandon: 1 (dapat dipinjam: 1)
    • Tandon: tidak ada
   Reserve Lihat Detail Induk
Opini AndaKlik untuk menuliskan opini Anda tentang koleksi ini!

 Kembali
design
 
Process time: 0.03125 second(s)