Detail An application of weak beam microscopy to the study of precipitation on dislocations   Oleh:  Allen, R.M. ; Sande, J. B. Vander Jenis: Article from Books Dalam koleksi: Electron microscopy and analysis, 1979, page 171-174. Topik: Weak Beam Ketersediaan Perpustakaan Pusat (BSD) Nomor Panggil: 502.8 ELE Non-tandon: 1 (dapat dipinjam: 1) Tandon: tidak ada    Reserve Lihat Detail Induk Opini Anda Klik untuk menuliskan opini Anda tentang koleksi ini! Kembali

Copyright © 2006, 2007 Unika Atma Jaya, all rights reserved