Detail Applied logistic regression Bibliografi Author: Hosmer, David W. ; Lemeshow, Stanley Topik: REGRESSION ANALYSIS Bahasa: (EN )    ISBN: 0-471-35632-8    Edisi: 2nd ed.     Penerbit: John Wiley & Sons     Tempat Terbit: New York    Tahun Terbit: 2000     Jenis: Books - E-Book Fulltext: ALR 2nd Ed Wiley Series iPaS.pdf (14.93MB; 17 download) Opini Anda Klik untuk menuliskan opini Anda tentang koleksi ini! Lihat Sejarah Pengadaan  Konversi Metadata   Kembali

Copyright © 2006, 2007 Unika Atma Jaya, all rights reserved