| Dirancang dan dibuat sebuah alat penjejak kurva karaktenstik semikonduktor untuk mengetahui karaktenstik dioda, transistor, JFET, D-MOSFET, E-MOSFET, dan thyristor. Alat sudah bekerja sesuai rancangan. Proses pengambilan dan pengolahan sampel lebih lama dari waktu transien dari thyristor sehingga belum dapat menunjukan arus transien dari thyristor. |