Pungukuran Kristalinitas Silika Berdasarkan Metode Difraktometer Sinar-X  

Oleh:

Herdianita, N.R. ; Ong H.L. ; Subroto, E.A. ; Priadi, B.

Jenis: Article from Bulletin/Magazine
Dalam koleksi: Proceedings Institut Teknologi Bandung vol. 31 no. 1 (1999), page 41-47.
Topik: Kristalinitas; Kristobalit; Kuarsa; Opal; Preparasi Sampel; Silika; Tridimit; XRD
Fulltext: A99006.PDF (557.89KB)

Ketersediaan

Perpustakaan Pusat (Semanggi) Nomor Panggil: PP32 Non-tandon: 1 (dapat dipinjam: 0) Tandon: tidak ada

Lihat Detail Induk

Isi artikel

Mineralogi dan derajat kristalinitas mineral silika non- dan mikrokristalin dapat ditentukan dengan metode difraktometer sinar-X. yaitu dengan mengukur lebar peak atau hump pada setengah intensitas-maksimum difraksi pada posisi sekitar 4 A. Hasil Optimum pengukuran kristalinitas diperoleh bila sampel silika kering berukuran butir 75 hingga 106 um diprepasi pada cetakan aluminium dan dianalisis mulain 10 hingga 40'20 dengan kecepatan goniometer 0.6'2O/menit dan interval pencatatan 0.01'. Prosedur seperti ini akan mempunyai kesalahan tidak lebih dari 0.3'2O.

Opini Anda

Klik untuk menuliskan opini Anda tentang koleksi ini!

Kembali