Detail A microscopic work function detector for surface studies, with application to Cs/W   Oleh:  Janssen, A. P. ; Akhter, A. ; Harland, C. J. ; Venables, J. A. Jenis: Article from Books Dalam koleksi: Electron microscopy and analysis, 1979, page 375-378. Topik: Surface science Ketersediaan Perpustakaan Pusat (BSD) Nomor Panggil: 502.8 ELE Non-tandon: 1 (dapat dipinjam: 1) Tandon: tidak ada    Reserve Lihat Detail Induk Opini Anda Klik untuk menuliskan opini Anda tentang koleksi ini! Kembali

Copyright © 2006, 2007 Unika Atma Jaya, all rights reserved