Detail Minimal Exposure Techniques in the Cambridge University 600 kV High Resolution Electron Microscope   Oleh:  Fryer, J. R. ; Cleaver, J. R. A. ; Smith, D. J. Jenis: Article from Books Dalam koleksi: Electron microscopy and analysis, 1979, page 287-290. Topik: Beam Sensitive Materials Ketersediaan Perpustakaan Pusat (BSD) Nomor Panggil: 502.8 ELE Non-tandon: 1 (dapat dipinjam: 1) Tandon: tidak ada    Reserve Lihat Detail Induk Opini Anda Klik untuk menuliskan opini Anda tentang koleksi ini! Kembali

Copyright © 2006, 2007 Unika Atma Jaya, all rights reserved