Anda belum login :: 23 Nov 2024 04:32 WIB
Detail
ArtikelExperimental procedures for preparing 90 degrees cross section and 1 degree angle lap TEM specimens of semiconductor materials  
Oleh: Fletcher, J. ; Titchmarsh, J. M. ; Booker, G. R.
Jenis: Article from Books
Dalam koleksi: Electron microscopy and analysis, 1979, page 153-156.
Topik: Angle Lap Specimen
Ketersediaan
  • Perpustakaan Pusat (BSD)
    • Nomor Panggil: 502.8 ELE
    • Non-tandon: 1 (dapat dipinjam: 1)
    • Tandon: tidak ada
   Reserve Lihat Detail Induk
Opini AndaKlik untuk menuliskan opini Anda tentang koleksi ini!

 Kembali
design
 
Process time: 0.015625 second(s)