Anda belum login :: 23 Nov 2024 04:53 WIB
Detail
ArtikelHigh resolution microscopy of ion implanted amorphous silicon  
Oleh: Gibson, J. M.
Jenis: Article from Books
Dalam koleksi: Electron microscopy and analysis, 1979, page 149-152.
Topik: Axial Bright
Ketersediaan
  • Perpustakaan Pusat (BSD)
    • Nomor Panggil: 502.8 ELE
    • Non-tandon: 1 (dapat dipinjam: 1)
    • Tandon: tidak ada
   Reserve Lihat Detail Induk
Opini AndaKlik untuk menuliskan opini Anda tentang koleksi ini!

 Kembali
design
 
Process time: 0.015625 second(s)