Difraksi Sinar X Untuk Mengukur Jarak Difraksi Kristal MgO,LiF, Dan NaF  

Oleh:

[s.n]

Jenis: Article from Journal - ilmiah nasional - tidak terakreditasi DIKTI
Dalam koleksi: SIGMA: Jurnal Sains dan teknologi vol. 12 no. 2 (Jul. 2009), page 145-151.
Topik: difraksi; sinar X; kristal

Ketersediaan

Perpustakaan Pusat (Semanggi) Nomor Panggil: SS25 Non-tandon: 1 (dapat dipinjam: 0) Tandon: tidak ada

Lihat Detail Induk

Isi artikel

difraksi sinar X saat ini telah menjadi alat yang umum untuk mengidentifikasi struktur dan jarak atom pada kristal. Model yang paling banyak digunakan adalah dengan model difraksi powder. Penelitian ini mau menambahkan satu contoh identifikasi jarak difraksi pada tiga kristal MgO,LiF,dan NaF. Yang dilakukan dan dilaporkan di Indonesia sehingga dapat menambah satu penelitian dalam bidang ini.

Opini Anda

Klik untuk menuliskan opini Anda tentang koleksi ini!

Kembali