Pengaruh Jangkau Sudut Ukur Pada Hasil Analisis Data Difraksi Sinar-X Menggunakan Metode Rietveld: Kasus Campuran MgO-Y2O3  

Oleh:

Pratapa, Suminar

Jenis: Article from Journal - ilmiah nasional - terakreditasi DIKTI
Dalam koleksi: Makara Seri Sains vol. 12 no. 2 (Nov. 2008), page 146-150.
Topik: Diffraction Range; X-Ray Diffraction; MgO-Y2O3; Rietveld Analysis

Ketersediaan

Perpustakaan Pusat (Semanggi) Nomor Panggil: MM65.2 Non-tandon: 1 (dapat dipinjam: 0) Tandon: tidak ada

Lihat Detail Induk

Isi artikel

Telah dilakukan analisis data difraksi sinar-x pada campuran keramik MgO-Y2O3 (30% berat Y2O3) dengan jangkau sudut ukur yang berbeda-beda untuk mengevaluasi pengaruhnya pada hasil analisis. Studi ini dilakukan karena salah satu kendala dalam pengumpulan data difraksi sinar-x dan analisisnya adalah pemilihan jangkau sudut ukur dengan difraktometer yang banyak dikaitkan dengan optimasi waktu ukur dan umur pemakaian tabung sumber sinar-x yang memiliki dampak ekonomis operasi alat. Analisis dilakukan menggunakan Rietica sebuah perangkat lunak berbasis metode Rietveld. Jangkau sudut yang dipilih adlaah (A) 10-100, (B) 10-90, (C) 10-80, (D) 10-70, dan (E) 10-60 20. Hasil analisis menunjukkan bahwa secara umum ketidakpastian (errors) parameter-parameter yang diperhalus (refined) semakin tinggi bila jangkau sudut dipersempit. Perhitungan komposisi fasa berat relatif menghasilkan penyimpangan signifikan bila jangkau sudut dipersempit, dengan sudut 10-80 90 masih memberikan hasil yang dapat ditoleransi. Komponen pelebaran puncak Lorentzian juga menyimpang secara signifikan bila jangkau sudut dipersempit, yang mengakibatkan semakin besarnya penyimpangan hasil perhitungan komposisi fasa bila sampel mengandung fasa dengan ukuran kristal > 100 nm. Studi ini juga memberikan rekomendasi bagaimana memilih jangkau sudut ukur difraksi sinar-x.

Opini Anda

Klik untuk menuliskan opini Anda tentang koleksi ini!

Kembali